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多层芯片架构及连接方法

摘要

一种多层芯片架构相互连接,通过硅通孔(TSV)的键合方法及可以实施方式为多层相同或不同功能的集成电路芯片相互连接。多层芯片通过硅通孔(TSV)键合形成圆柱体金属互连,芯片之间用顶部与底部堆叠方式,或芯片倒装堆叠芯片方式实现层与层硅通孔定位对准。不同几何尺寸芯片堆叠键合方式互连是通过芯片上固定位置硅通孔(TSV)金属键合,增加一个辅助层使得各层芯片通过硅通孔(TSV)可持续互连。这种固定位置硅通孔(TSV)金属化垂直互连,可以作为工艺定位和对齐基准使得堆叠芯片互连焊接准确,工艺控制简便,连接可靠,可以规模化并具有合理成本的生产,可以跨层和简化各层之间电连接。

著录项

  • 公开/公告号CN110060993B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 胡志刚;

    申请/专利号CN201910342208.4

  • 发明设计人 胡志刚;

    申请日2019-04-26

  • 分类号H01L25/18(20060101);H01L21/768(20060101);H01L23/31(20060101);H01L23/48(20060101);

  • 代理机构11597 北京睿派知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘锋

  • 地址 410000 湖南省长沙市芙蓉区文艺路街道五一中路49号8栋402室

  • 入库时间 2022-08-23 11:11:57

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