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扫描探针显微镜以及用于测量局部电势场的方法

摘要

本发明涉及扫描探针显微镜以及用于测量局部电势场的方法。按照本发明提供扫描探针显微镜,量子点被安置在所述扫描探针显微镜的尖端处。这使得能够提高在测量电势场时的分辨率和灵敏度。在按照本发明的方法中确定所施加的电压,在所述电压的情况下发生量子点的电荷变化。按照本发明,分辨率不再与尖端距要研究的试样的间隔以及尖端的半径有关。

著录项

  • 公开/公告号CN107438769B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 于利奇研究中心有限公司;

    申请/专利号CN201680010169.2

  • 申请日2016-01-18

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人臧永杰

  • 地址 德国于利奇

  • 入库时间 2022-08-23 11:09:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-18

    授权

    授权

  • 2018-01-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01Q60/30 申请日:20160118

    实质审查的生效

  • 2017-12-05

    公开

    公开

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