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SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING LOCAL ELECTRICAL POTENTIAL FIELDS

机译：扫描探针显微镜和测量局部电势的方法

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A scanning probe microscope includes a tip. A quantum dot is applied to the tip.

机译：扫描探针显微镜包括尖端。量子点被应用于尖端。

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公开/公告号US2018024161A1

专利类型
公开/公告日2018-01-25

原文格式PDF
申请/专利权人 FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH;
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申请/专利号US201615550036
发明设计人 FRANK STEFAN TAUTZ;RUSLAN TEMIROV;CHRISTIAN WAGNER;MATTHEW FELIX BLISHEN GREEN;
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申请日2016-01-18
分类号G01Q60/30;
国家 US
入库时间 2022-08-21 13:01:42

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