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机译:扫描探针显微镜和测量局部电势的方法
公开/公告号EP3256863A1
专利类型
公开/公告日2017-12-20
原文格式PDF
申请/专利权人 FORSCHUNGSZENTRUM JÜLICH GMBH;
申请/专利号EP20160710670
发明设计人 TAUTZ FRANK STEFAN;TEMIROV RUSLAN;WAGNER CHRISTIAN;GREEN MATTHEW FELIX BLISHEN;
申请日2016-01-18
分类号G01Q60/30;G01Q60/42;
国家 EP
入库时间 2022-08-21 13:16:20
机译: 扫描探针显微镜及测量局部电位场的方法
机译: 扫描探针显微镜和测量局部电势的方法