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背沟道蚀刻型TFT基板的制作方法及背沟道蚀刻型TFT基板

摘要

本发明提供一种背沟道蚀刻型TFT基板的制作方法及背沟道蚀刻型TFT基板。本发明的背沟道蚀刻型TFT基板的制作方法,采用两层的氧化硅层对有源层背沟道进行覆盖保护,先低温沉积形成氧化硅的第一钝化层,再高温沉积形成氧化硅的第二钝化层,然后采用含氮等离子体对第二钝化层表面进行处理,使第二钝化层表面的湿润角在60°以上,相比于采用单层氧化硅层对背沟道进行覆盖保护的现有技术方案,可提升背沟道蚀刻型氧化物TFT阻抗水气的作用,提升TFT电性,相比于采用氧化硅层与氮化硅层的组合对背沟道进行覆盖保护的另一现有技术方案,无需使用氮化硅层,可以避免氧化硅和氮化硅的沉积机台切换问题以及蚀刻选择比的问题,简化了制作工艺。

著录项

  • 公开/公告号CN109119427B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-07-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201810710165.6

  • 发明设计人 葛世民;

    申请日2018-07-02

  • 分类号H01L27/12(20060101);H01L21/77(20170101);

  • 代理机构44265 深圳市德力知识产权代理事务所;

  • 代理人林才桂

  • 地址 518132 广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号

  • 入库时间 2022-08-23 11:06:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-28

    授权

    授权

  • 2019-01-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/12 申请日:20180702

    实质审查的生效

  • 2019-01-01

    公开

    公开

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