功率半导体器件特性统计学测试方法

摘要

本发明提供了一种功率半导体器件特性统计学测试方法，包括：在一个测试周期内测试设定电流值下开关管的开关特性、导通特性以及二极管的导通特性、恢复特性；可通过循环测试模式获得多组特性数据，通过计算得到设定电压、温度、电流等级下的器件特性概率密度函数；从而可通过变量测试模式，控制电压、温度、电流中的两项为定值，改变其中一项进行连续多周期测试，得到该变量各等级下的器件特性的概率密度函数，并根据置信区间绘制出以概率分布带，代替传统单一曲线的特性‑电流图、特性‑电压图、特性‑温度图，使得功率半导体器件特性的数据具有统计学规律。