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利用臭氧实现碱性体系对硅片刻蚀抛光的方法及设备

摘要

本发明公开了一种利用臭氧实现碱性体系对硅片刻蚀抛光的方法及设备,该方法包括:步骤1、使用臭氧溶液对硅片进行表面处理;2、使用去离子水对硅片进行清洗;3、使用碱液对硅片的下表面及侧面边缘进行刻蚀抛光;4、清洗硅片去除表面污染物;5、使用酸液对硅片进行酸洗;6、清洗硅片去除残留药液;7、烘干硅片。该设备包括槽式设备、链式设备和搬送设备。本发明利用臭氧实现碱性体系对硅片的刻蚀抛光,安全环保、成本低且品质好。

著录项

  • 公开/公告号CN109004062B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 常州捷佳创精密机械有限公司;

    申请/专利号CN201810724740.8

  • 发明设计人 左国军;任金枝;李雄朋;

    申请日2018-07-04

  • 分类号H01L31/18(20060101);H01L21/02(20060101);H01L21/67(20060101);

  • 代理机构44247 深圳市康弘知识产权代理有限公司;

  • 代理人吴敏;孙洁敏

  • 地址 213000 江苏省常州市新北区机电工业园宝塔山路9号

  • 入库时间 2022-08-23 10:59:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-26

    授权

    授权

  • 2019-01-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L31/18 申请日:20180704

    实质审查的生效

  • 2018-12-14

    公开

    公开

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