具有增大的故障覆盖率的集成电路

摘要

本发明涉及具有增大的故障覆盖率的集成电路。公开了一种用于增大集成电路(IC)设计的故障覆盖率的电子设计自动化(EDA)工具，该工具包含用于将至少一个XOR门、AND门、OR门及多路复用器插入观察测试点与IC设计的现有的第一扫描触发器的处理器。XOR门借助于AND门、OR门及多路复用器给第一扫描触发器提供观察测试信号，使得观察测试信号覆盖在观察测试点处出现的故障。第一扫描触发器基于观察测试信号来输出数据输入信号、测试模式集及第一测试信号集，用于指示IC设计是否有故障。能够在结构上进行测试的可测试的IC使用IC设计来制作。