首页> 中国专利> 一种用于X射线光栅相衬成像装置的探测器图像校正方法

一种用于X射线光栅相衬成像装置的探测器图像校正方法

摘要

本发明提供了用于X射线光栅相衬成像装置的探测器图像校正方法,方法首先将源光栅、分束光栅和分析光栅从光路中移除,在X射线管关闭的状态下,采集探测器输出的图像,作为暗电流校正图像Ioffset,然后将源光栅放置于X射线管和探测器之间,打开X射线管,采集探测器输出的图像,作为采集增益校正图像Igain,接着将源光栅、分束光栅和分析光栅放回光路中,并将样品放置于源光栅和分束光栅或者分束光栅和分析光栅之间的光路上,采集探测器输出的图像,作为数据图像Iacquire,最后根据暗电流校正图像Ioffset和增益校正图像Igain对需校正数据图像Iacquire进行暗电流校正和增益校正,得到校正后的数据图像I。

著录项

  • 公开/公告号CN106023107B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-03-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学技术大学;

    申请/专利号CN201610331299.8

  • 申请日2016-05-17

  • 分类号G06T5/00(20060101);G06T1/00(20060101);G06T5/50(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人任岩

  • 地址 230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号

  • 入库时间 2022-08-23 10:53:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-27

    授权

    授权

  • 2016-11-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T5/00 申请日:20160517

    实质审查的生效

  • 2016-11-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 5/00 申请日:20160517

    实质审查的生效

  • 2016-10-12

    公开

    公开

  • 2016-10-12

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号