公开/公告号CN110716066B
专利类型发明专利
公开/公告日2020-03-17
原文格式PDF
申请/专利权人 南京宏泰半导体科技有限公司;
申请/专利号CN201911270728.5
申请日2019-12-12
分类号
代理机构
代理人
地址 211800 江苏省南京市浦口区江浦街道浦滨大道320号科创广场科创总部大厦B座24楼B2411室
入库时间 2022-08-23 10:52:55
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-03-17
授权
授权
2020-02-21
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R1/02 申请日:20191212
实质审查的生效
2020-02-21
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R1/02 申请日:20191212
实质审查的生效
2020-01-21
公开
公开
2020-01-21
公开
公开
2020-01-21
公开
公开
查看全部
机译: 自动测试系统的半导体芯片,包括该半导体芯片的自动测试系统,操作自动测试设备的方法以及使用该方法制造半导体芯片的过程
机译: 具有多功能探针卡的自动测试设备在测试中测试设备
机译: 用于测试半导体封装和具有相同的自动测试设备的测试装置