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一种半导体自动测试设备测试拓展卡助拔推进装置

摘要

一种半导体自动测试设备测试拓展卡助拔推进装置,解决了在手动插拔的过程中,推进不够精准的问题,并且能够使得欧式插座的磨损。半导体自动检测设备测试是对集成电路或者芯片进行检测。一种半导体自动测试设备测试拓展卡助拔推进装置,主要是通过手柄扳手推进U型推进杆,通过手柄扳手两个状态的切换,实现助拔器其他装置的推进或收回,实现精准推进。

著录项

  • 公开/公告号CN110716066B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-03-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京宏泰半导体科技有限公司;

    申请/专利号CN201911270728.5

  • 发明设计人 包智杰;赵坤岭;

    申请日2019-12-12

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 211800 江苏省南京市浦口区江浦街道浦滨大道320号科创广场科创总部大厦B座24楼B2411室

  • 入库时间 2022-08-23 10:52:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-17

    授权

    授权

  • 2020-02-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R1/02 申请日:20191212

    实质审查的生效

  • 2020-02-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R1/02 申请日:20191212

    实质审查的生效

  • 2020-01-21

    公开

    公开

  • 2020-01-21

    公开

    公开

  • 2020-01-21

    公开

    公开

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