半导体自动测试设备测试拓展卡助拔连杆装置

摘要

本发明公开了一种半导体自动测试设备测试拓展卡助拔连杆装置，所述手柄的一端通过所述转动件与测试机设备转动连接，所述手柄的中部通过螺栓与所述连杆固定连接，两个所述转动盘分别与所述连杆固定连接，并位于所述连杆的两端，且每个所述转动盘与测试机设备转动连接，所述第一助拔杆和所述第二助拔杆均通过所述万向连接杆分别与每个所述转动盘固定连接，且所述第一助拔杆和所述第二助拔杆与测试机设备滑动连接，所述第一助拔杆的侧壁上具有第一助拔槽，所述第二助拔杆的侧壁上具有第二助拔槽，所述第一助拔槽和所述第二助拔槽反向设置。达到助拔机构的推进距离更加精确，结构简单，投入成本低的目的。