首页> 中国专利> 一种具有多凹陷缓冲层的4H-SiC金属半导体场效应晶体管

一种具有多凹陷缓冲层的4H-SiC金属半导体场效应晶体管

摘要

本发明属于场效应晶体管技术领域,特别公开了一种具有多凹陷缓冲层的4H‑SiC金属半导体场效应晶体管;目的在于提高场效应晶体管的击穿电压和跨导参数,改善直流特性。采用的技术方案为:自下而上包括4H‑SiC半绝缘衬底、P型缓冲层、N型沟道层,N型沟道层的两侧分别为源极帽层和漏极帽层,源极帽层和漏极帽层表面分别是源电极和漏电极,N型沟道层上方且靠近源极帽层的一侧形成栅电极,所述缓冲层的上端面在栅电极及栅源下方,栅漏下方靠近栅极的一侧,栅漏下方靠近漏极帽层的一侧分别设有三个缓冲层凹陷区,三个缓冲层凹陷区的深度均为0.15μm,长度分别为1.2μm,0.1μm,0.5μm。

著录项

  • 公开/公告号CN106910775B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-01-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201710166438.0

  • 发明设计人 贾护军;吴秋媛;杨银堂;柴常春;

    申请日2017-03-20

  • 分类号

  • 代理机构西安中科汇知识产权代理有限公司;

  • 代理人李慧芳

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2022-08-23 10:47:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-10

    授权

    授权

  • 2017-07-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/78 申请日:20170320

    实质审查的生效

  • 2017-07-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/78 申请日:20170320

    实质审查的生效

  • 2017-06-30

    公开

    公开

  • 2017-06-30

    公开

    公开

  • 2017-06-30

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号