首页> 中国专利> 一种利用氢等离子体去除在硅衬底上制备的金刚石窗口的表面碳化硅的方法

一种利用氢等离子体去除在硅衬底上制备的金刚石窗口的表面碳化硅的方法

摘要

本发明公开了一种利用氢等离子体去除在硅衬底上制备的金刚石窗口的表面碳化硅的方法,包括如下步骤:利用丙酮将去除硅衬底的金刚石薄膜窗口材料进行超声清洗;将清洗后的金刚石薄膜窗口含硅杂质的一面向上放置于离子体装置反应腔中的基片台上并对腔体抽真空;待真空度下降到标准真空度后通入氢气;用氢等离子体刻蚀金刚石薄膜窗口,直至碳化硅完全还原成硅;最后用硝酸与氢氟酸腐蚀去除硅。本发明利用氢等离子体将金刚石窗口表面的碳化硅还原成硅并用酸去除,在没有破坏金刚石窗口薄膜的前提下有效去除了残留在金刚石窗口表面的碳化硅等大分子杂质,减少了大分子杂质对金刚石薄膜窗口电子束的干扰和吸收,极大的提升了金刚石窗口的热稳定性。

著录项

  • 公开/公告号CN107546109B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-12-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉工程大学;

    申请/专利号CN201710774121.5

  • 发明设计人 马志斌;任昱霖;李艳春;

    申请日2017-08-31

  • 分类号

  • 代理机构湖北武汉永嘉专利代理有限公司;

  • 代理人崔友明

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区雄楚大街693号

  • 入库时间 2022-08-23 10:46:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-17

    授权

    授权

  • 2018-01-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/02 申请日:20170831

    实质审查的生效

  • 2018-01-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/02 申请日:20170831

    实质审查的生效

  • 2018-01-05

    公开

    公开

  • 2018-01-05

    公开

    公开

  • 2018-01-05

    公开

    公开

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