一种InGaAs短波红外成像仪的十字盲元检测及校正装置和方法

摘要

本发明请求保护一种InGaAs短波红外成像仪的十字盲元检测及校正装置和方法，包括短波红外标准辐射源、InGaAs短波红外成像仪、上位机检测分析系统及上位机成像校正系统；上位机检测分析系统采集传至上位机的校正用图像数据，上位机成像校正系统采集传至上位机的原始图像数据。本发明提出的方法主要针对十字盲元进行检测和处理，相比于常规校正处理方法，对于十字盲元的处理效果更好，InGaAs短波红外成像仪进行一次校正参数运算后，每次成像调用参数即可对图像校正，无需重新计算校正参数；针对短波红外成像仪利用景物反射光成像的特点，短波红外标准辐射源选用积分球，出光更为均匀，受温度影响小。