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提高集成电路可靠性的方法

摘要

本发明提供一种提高集成电路可靠性的方法,在晶片的导电插塞化学机械抛光的板刷擦洗步骤完成之后,增加一道对所述晶片表面进行冲洗的工艺,可以有效去除残留在晶片表面残留的可溶性钨盐,避免晶片表面干燥后水印,从而避免制得的集成电路漏电或者可靠性失效的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN106992115B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;

    申请/专利号CN201710241894.7

  • 发明设计人 徐涛;王卉;陈宏;曹子贵;胡海天;

    申请日2017-04-14

  • 分类号

  • 代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人屈蘅

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

  • 入库时间 2022-08-23 10:42:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-25

    授权

    授权

  • 2017-08-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/02 申请日:20170414

    实质审查的生效

  • 2017-08-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/02 申请日:20170414

    实质审查的生效

  • 2017-07-28

    公开

    公开

  • 2017-07-28

    公开

    公开

  • 2017-07-28

    公开

    公开

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