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适用于去除蚀刻后的光致抗蚀剂和底部抗反射涂层的组合物

摘要

公开了一种适用于去除蚀刻后的光致抗蚀剂和底部抗反射涂层的组合物。该水基组合物包含至少一种离液序列高的溶质、至少一种碱性碱和去离子水。采用该组合物在集成电路的制造中实现了硬化的光致抗蚀剂和/或BARC材料的高效去除,而不会不利地影响基片上的金属物质、例如铜,也不会破坏在微电子装置结构中使用的低k介电材料。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-09

    授权

    授权

  • 2016-12-14

    著录事项变更 IPC(主分类):G03F7/42 变更前: 变更后: 申请日:20060109

    著录事项变更

  • 2016-12-14

    著录事项变更 IPC(主分类):G03F 7/42 变更前: 变更后: 申请日:20060109

    著录事项变更

  • 2015-05-06

    专利申请权的转移 IPC(主分类):G03F7/42 变更前: 变更后: 登记生效日:20150416 申请日:20060109

    专利申请权、专利权的转移

  • 2015-05-06

    专利申请权的转移 IPC(主分类):G03F 7/42 变更前: 变更后: 登记生效日:20150416 申请日:20060109

    专利申请权、专利权的转移

  • 2015-01-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F7/42 申请日:20060109

    实质审查的生效

  • 2015-01-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 7/42 申请日:20060109

    实质审查的生效

  • 2014-12-10

    公开

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  • 2014-12-10

    公开

    公开

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