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基于气相TMAH的硅刻蚀系统

摘要

本发明公开了一种基于气相TMAH的硅刻蚀系统,包括:控制系统、传送系统、刻蚀系统和水冷系统;其中,水冷系统用于冷凝TMAH气体;刻蚀系统用于产生TMAH气体以及输送刻蚀气体至刻蚀腔体刻蚀硅片,刻蚀硅片时刻蚀腔内使用的温度为高于TMAH沸点,使TMAH呈气态的状态下对硅进行刻蚀,并且实现了对硅片非刻蚀面上结构实现了有效的保护,保证了硅刻蚀工艺与以完成工艺之间的兼容性。传送系统用于传输以及清洗所刻蚀硅片;控制系统用于控制水冷系统、刻蚀系统、传送系统的协调工作。实验研究证明,该系统实现了硅高速刻蚀的同时得到了较为光滑刻蚀表面,以及达到了同干法刻蚀一样保护了非刻蚀面结构的效果。与此同时,气相刻蚀可以通过增大刻蚀腔体的气压以进一步提高刻蚀速率。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-19

    授权

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  • 2018-01-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):B81C1/00 申请日:20170705

    实质审查的生效

  • 2018-01-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):B81C 1/00 申请日:20170705

    实质审查的生效

  • 2017-12-08

    公开

    公开

  • 2017-12-08

    公开

    公开

  • 2017-12-08

    公开

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