公开/公告号CN105321580B
专利类型发明专利
公开/公告日2019-03-26
原文格式PDF
申请/专利权人 华邦电子股份有限公司;
申请/专利号CN201410309434.X
申请日2014-07-01
分类号
代理机构隆天知识产权代理有限公司;
代理人郝新慧
地址 中国台湾台中市大雅区科雅一路8号
入库时间 2022-08-23 10:29:01
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-03-26
授权
授权
2016-03-09
实质审查的生效 IPC(主分类):G11C29/56 申请日:20140701
实质审查的生效
2016-03-09
实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/56 申请日:20140701
实质审查的生效
2016-02-10
公开
公开
2016-02-10
公开
公开
机译: 用于存储器芯片的测试方法,制造方法和测试装置,用于存储器模块的测试方法,制造方法,测试装置和用于计算机的制造方法
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