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宽频存储器测试装置及其存储器测试方法

摘要

本发明公开了一种宽频存储器测试装置及其存储器测试方法。通道信号压缩单元具有多个通道信号压缩模式,其中通道信号压缩模式分别对应不同的通道信号压缩比。控制单元依据压缩比控制信号控制通道信号压缩单元压缩通道信号的通道信号压缩比。本发明能降低存储器的测试时间,提高存储器的测试效率的目的。

著录项

  • 公开/公告号CN105321580B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华邦电子股份有限公司;

    申请/专利号CN201410309434.X

  • 发明设计人 林哲民;梁志玮;

    申请日2014-07-01

  • 分类号

  • 代理机构隆天知识产权代理有限公司;

  • 代理人郝新慧

  • 地址 中国台湾台中市大雅区科雅一路8号

  • 入库时间 2022-08-23 10:29:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-26

    授权

    授权

  • 2016-03-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C29/56 申请日:20140701

    实质审查的生效

  • 2016-03-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/56 申请日:20140701

    实质审查的生效

  • 2016-02-10

    公开

    公开

  • 2016-02-10

    公开

    公开

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