可调高能X射线反散射物位测量方法

摘要

可调高能X射线反散射物位测量方法，属于核物位检测技术领域。本发明是为了解决现有核物位测量中含有辐射源，对人员及周围环境存在危害的问题。它基于可调高能X射线反散射物位测量装置实现，方法为待测罐体内无物料时，使X射线管发射X射线至待测罐体，X射线探测器接收待测罐体对X射线的反散射信号；将此时X射线探测器的输出数据作为标定参数；然后使待测罐体内缓慢输入物料，并实时将X射线探测器输出数据与标定参数作比较，当X射线探测器输出数据与标定参数不相等时，确定待测罐体内物料的物位达到标准，由此实现对物位的测量。本发明用于物位测量。