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转基因产品的低密度基因芯片检测方法

摘要

转基因产品的低密度基因芯片检测方法,涉及一种采用低密度基因芯片用于转基因产品的检测方法。其步骤为:选择引物与探针;处理芯片载体;制备芯片:将探针溶于超纯水,加入点样液,将探针固定在已处理的芯片载体上,点样;多基因PCR扩增;MPCR产物标记;MPCR产物的芯片杂交试验;扫描分析和数据处理:将杂交反应后的芯片插入扫描仪的检测孔内,进行结果扫描和分析处理。与传统的检测方法相比,具有快速高效,自动化程度高等特点。可同时对转基因产品中常用的启动子、终止子、筛选标记基因、抗除草剂基因、抗虫基因等9个外源DNA序列进行检测分析。

著录项

  • 公开/公告号CN1297668C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2007-01-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200410045458.5

  • 发明设计人 苏文金;刘光明;宋思杨;

    申请日2004-05-20

  • 分类号C12Q1/68(20060101);G01N33/543(20060101);

  • 代理机构厦门南强之路专利事务所;

  • 代理人马应森

  • 地址 361005 福建省厦门市思明南路422号

  • 入库时间 2022-08-23 08:59:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-08-04

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):C12Q 1/68 授权公告日:20070131 申请日:20040520

    专利权的终止

  • 2007-01-31

    授权

    授权

  • 2005-04-20

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-02-16

    公开

    公开

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