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具有冗长修复功能的薄膜磁性体存储装置

摘要

与存储器阵列(10)相邻地配置的编程组件(PU0~PU2)分别各存储置换修复所需要的冗长信息的1位。在通常的数据读出动作之前,从编程组件中读出的冗长信息锁存到行选择电路(20)内。行选择电路(20)根据由冗长信息表示的不良行地址与输入的行地址(RA0,RA1)的一致判断有选择地激活与正规存储单元对应的字线(WL0~WL3)和备用字线(SWL)中的1条字线。

著录项

  • 公开/公告号CN1302482C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2007-02-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三菱电机株式会社;

    申请/专利号CN02143452.2

  • 发明设计人 大谷顺;

    申请日2002-09-26

  • 分类号G11C11/15(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人刘宗杰;叶恺东

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 08:59:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-10

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G11C 11/15 授权公告日:20070228 终止日期:20160926 申请日:20020926

    专利权的终止

  • 2014-05-07

    专利权的转移 IPC(主分类):G11C 11/15 变更前: 变更后: 登记生效日:20140416 申请日:20020926

    专利申请权、专利权的转移

  • 2014-05-07

    专利权的转移 IPC(主分类):G11C 11/15 变更前: 变更后: 登记生效日:20140416 申请日:20020926

    专利申请权、专利权的转移

  • 2007-02-28

    授权

    授权

  • 2007-02-28

    授权

    授权

  • 2003-10-15

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-10-15

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-07-30

    公开

    公开

  • 2003-07-30

    公开

    公开

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