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一种变掺杂变组分的AlGaNGaN中子探测器

摘要

本发明公开一种变掺杂变组分AlGaN/GaN中子探测器,为PIN结构,以自支撑n型GaN作为衬底,在衬底上利用金属有机物化学气相沉积技术顺序生长变掺杂变组分n型AlGaN层、未掺杂GaN层和p型GaN层;在p型GaN和n型衬底上沉积金属并做退火处理形成欧姆接触电极;在p型GaN层上沉积

著录项

  • 公开/公告号CN106711250B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-04-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东华理工大学;

    申请/专利号CN201710095598.0

  • 申请日2017-02-22

  • 分类号

  • 代理机构江西省专利事务所;

  • 代理人胡里程

  • 地址 344000 江西省抚州市学府路56号

  • 入库时间 2022-08-23 10:10:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-17

    授权

    授权

  • 2017-06-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L31/0304 申请日:20170222

    实质审查的生效

  • 2017-05-24

    公开

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