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芯片及形成方法、封装成品、提高封装成品良率的方法

摘要

一种芯片及形成方法、封装成品、提高封装成品良率的方法,芯片形成方法包括:提供芯片图形,芯片图形包括多个互连金属层图形,记录金属密度小于0.3的互连金属层;根据芯片图形形成芯片,包括根据互连金属层图形形成互连金属层,在形成金属密度小于0.3的互连金属层时,在该互连金属层的互连金属线之间的空隙中形成填充金属线,使互连金属线和填充金属线的金属密度之和大于等于0.3。封装过程中,互连金属层的金属密度大于等于0.3,相邻两层互连金属层之间的层间介电材料层能承受较大应力,不会引起相邻层互连金属层之间的层间介电材料层和其中的插塞层断裂,相邻两层互连金属层之间的互连性能良好,封装成品良率能满足量产的要求。

著录项

  • 公开/公告号CN104701246B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-03-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 展讯通信(上海)有限公司;

    申请/专利号CN201310670232.3

  • 发明设计人 郭叙海;

    申请日2013-12-10

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人张亚利

  • 地址 201203 上海市浦东新区浦东张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼

  • 入库时间 2022-08-23 10:09:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-23

    授权

    授权

  • 2015-07-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/768 申请日:20131210

    实质审查的生效

  • 2015-06-10

    公开

    公开

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