模拟电路CP&FT良率分析及成品率提升策略

摘要

半导体良率在整个半导体制造过程中占有相当重要的地位,良率的高低代表着制程能力的好坏。对于企业而言,有高的良率就代表着制程相当稳定,可以为企业减少不良品的损失,进而提高企业的利润。
　　 本文首先讲述了良率与中测及成测的基础知识,接着提出了中测(CP)时良率目标值的确定方法,并深入分析了中测出现的各种失效模式。随后总结了成测(FT)良率降低的原因,并分析了封装漂移对FT良率的影响。接下来以各种丰富实用的案例来印证以上的分析,最后提出了成品率提升策略。