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批量加工晶圆的统计过程控制方法

摘要

本发明公开了一种批量加工晶圆的统计过程控制的方法,主要解决现有控制图无法对批量加工晶圆实施统计过程控制的问题。其实施步骤是:1、当同一产品在相应加工炉中完成晶圆批量加工后,采集样本数据,获得每个子批的均值和标准偏差;2、由子批均值和标准偏差,计算二阶嵌套控制图中四个控制图相应的特征值,获得二阶嵌套控制图中四个控制图的控制线;3、按照休哈特控制图的绘制方法,将特征值和控制线绘制到对应的控制图中;4、应用判断过程异常准则对步骤3的四个控制图进行判断,得出批量加工晶圆的生产过程是否处于受控状态的结果。本发明可全面监控晶圆批量加工,且具有诊断功能,提高了晶圆的加工质量,可用于晶圆批量生产。

著录项

  • 公开/公告号CN105425749B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-03-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201510937567.6

  • 发明设计人 游海龙;田文星;顾凯;贾新章;

    申请日2015-12-15

  • 分类号G05B19/418(20060101);

  • 代理机构61205 陕西电子工业专利中心;

  • 代理人王品华;朱红星

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2022-08-23 10:08:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-26

    专利权的转移 IPC(主分类):G05B19/418 登记生效日:20190709 变更前: 变更后: 申请日:20151215

    专利申请权、专利权的转移

  • 2018-03-06

    授权

    授权

  • 2016-04-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G05B19/418 申请日:20151215

    实质审查的生效

  • 2016-03-23

    公开

    公开

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