经由内插推断与存储器单元相关的阈值电压分布

摘要

本发明包含用于经由内插推断与存储器单元相关的阈值电压分布的设备及方法。多个实施例包含确定各自编程为多个数据状态中的一者的一组存储器单元的软数据，其中所述软数据包括多个不同软数据值；确定与所述不同软数据值中的每一者相关的存储器单元的数量；以及使用与所述不同软数据值中的每一者相关的存储器单元的所述经确定数量经由内插过程推断与所述组存储器单元相关的阈值电压分布的至少一部分。