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一种微条粒子探测器及其制备方法

摘要

本发明涉及一种以硅片上定向生长[100]晶面金刚石薄膜为基体材料制成的微条粒子探测器及其制备方法。本发明的微条粒子探测器,包括衬底及其表面涂层以及顶电极和背电极,衬底采用[100]硅片;在该衬底的上表面是[100]定向的金刚石薄膜涂层;在金刚石薄膜涂层的表面是顶电极,顶电极由铬金复合而成,并经光刻处理成条宽和间距均为25μm的微条电极,每条微条电极有镁铝丝引线引出;衬底的下表面是背电极,该背电极也是铬金复合电极。本发明的探测器的制备方法包括如下步骤:氢等离子原位刻蚀、硅表面渗碳、成核过程、金刚石表面生长过程和表面蒸镀铬金复合电极。本发明以硅片上定向生长[100]金刚石薄膜来制备粒子探测器,解决了任意取向多晶金刚石薄膜综合性能差的问题,同时解决了采用探测器级天然金刚石而造成的价格昂贵的问题,降低了生产成本,有利于工业化生产。因而具有广泛的应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN1265210C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2006-07-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海大学;

    申请/专利号CN200310109274.6

  • 发明设计人 王林军;夏义本;沈沪江;张明龙;

    申请日2003-12-11

  • 分类号

  • 代理机构上海上大专利事务所;

  • 代理人何文欣

  • 地址 200072 上海市闸北区延长路149号

  • 入库时间 2022-08-23 08:58:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-02-10

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

  • 2006-07-19

    授权

    授权

  • 2005-01-26

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-11-17

    公开

    公开

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