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用于测试具有微间距阵列的面板的探针单元

摘要

本文中公开了一种用于测试具有微间距阵列的面板的探针单元,用于电气测试液晶面板,在液晶面板的边缘区具有多个以微间距布置的焊盘电极,以在其上安装测试驱动芯片,探针单元包括:基膜,该基膜包括形成于其上的连接图案,并且用于电气测试液晶面板的电信号施加至该连接图案;包括输入引线和输出引线的测试驱动芯片,该测试驱动芯片具有与驱动芯片的图案相同的图案,并且该测试驱动芯片安装在基膜上,使得所述输入引线与所述连接图案接触;触头,这些触头与所述测试驱动芯片的所述输出引线直接接触,以使所述液晶面板的所述焊盘电极连接至所述测试驱动芯片的所述输出引线;以及本体块,该本体块具有供所述测试驱动芯片及所述基膜固定的下表面。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-21

    授权

    授权

  • 2017-08-11

    专利申请权的转移 IPC(主分类):G01R 1/073 登记生效日:20170721 变更前: 变更后: 申请日:20140909

    专利申请权、专利权的转移

  • 2017-08-11

    专利申请权的转移 IPC(主分类):G01R 1/073 登记生效日:20170721 变更前: 变更后: 申请日:20140909

    专利申请权、专利权的转移

  • 2015-04-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/073 申请日:20140909

    实质审查的生效

  • 2015-04-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/073 申请日:20140909

    实质审查的生效

  • 2015-04-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/073 申请日:20140909

    实质审查的生效

  • 2015-03-18

    公开

    公开

  • 2015-03-18

    公开

    公开

  • 2015-03-18

    公开

    公开

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