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用于测试微间距阵列的探针单元

摘要

本文公开了用于测试微间距阵列的探针单元,该探针单元在探针片有两行或更多行触点时使各行触点能与测试目标稳定地接触。探针单元包括:探针片,该探针片包括绝缘膜和在绝缘膜上形成的引线图案,其中图案化引线的特定部分构成与测试目标接触且在两行或更多行中形成的触点;紧固探针片的体块;以及设置至体块的按压构件,用于向测试目标按压触点,以使各行触点可分别由按压构件来按压。

著录项

  • 公开/公告号CN102136234B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-09-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 寇地斯股份有限公司;

    申请/专利号CN201110033221.5

  • 发明设计人 金宪敏;

    申请日2011-01-24

  • 分类号

  • 代理机构上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人张欣

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2022-08-23 09:15:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-08

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G09G 3/00 授权公告日:20130904 终止日期:20180124 申请日:20110124

    专利权的终止

  • 2013-09-04

    授权

    授权

  • 2013-09-04

    授权

    授权

  • 2011-09-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G09G3/00 申请日:20110124

    实质审查的生效

  • 2011-09-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G09G 3/00 申请日:20110124

    实质审查的生效

  • 2011-07-27

    公开

    公开

  • 2011-07-27

    公开

    公开

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