公开/公告号CN104465616B
专利类型发明专利
公开/公告日2017-10-27
原文格式PDF
申请/专利权人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;
申请/专利号CN201310435704.7
发明设计人 钟怡;
申请日2013-09-23
分类号
代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人屈蘅
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号
入库时间 2022-08-23 10:02:29
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-10-27
授权
授权
2015-04-22
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 23/544 申请日:20130923
实质审查的生效
2015-04-22
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 23/544 申请日:20130923
实质审查的生效
2015-03-25
公开
公开
2015-03-25
公开
公开
机译: 具有介电可靠性测试结构的半导体晶片,集成电路产品和测试方法
机译: 具有介电可靠性测试结构的半导体晶片,集成电路产品和测试方法
机译: 集成电路故障分析测试方法