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弛豫、低缺陷绝缘体上SiGe及其制造方法

摘要

本发明给出了形成基本上弛豫和低缺陷SGOI衬底材料的热混合方法。本方法包括一个形成图案的步骤,它被用来形成这样一种结构,该结构至少包括在抵抗Ge扩散的阻挡层顶上形成的SiGe岛,使SiGe层形成岛以这样一种方式改变了作用在每一条岛边缘的局部力,使得弛豫力大于反抗弛豫的力。在形成图案的层边缘上恢复力的短缺允许最终SiGe薄膜比起连续薄膜要进一步弛豫。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-08

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/20 登记生效日:20171120 变更前: 变更后: 申请日:20031119

    专利申请权、专利权的转移

  • 2017-12-08

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/20 登记生效日:20171120 变更前: 变更后: 申请日:20031119

    专利申请权、专利权的转移

  • 2006-07-19

    授权

    授权

  • 2006-07-19

    授权

    授权

  • 2004-08-18

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-08-18

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-06-09

    公开

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  • 2004-06-09

    公开

    公开

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