半导体器件SEU翻转概率的数值模拟方法

摘要

本发明涉及一种半导体器件SEU翻转概率的数值模拟方法，本发明通过SEU替代模型把SEU问题中基本变量的维度高且离散问题转化为一维较连续的问题，进而在此基础上使用改进的MCMC子集抽样方法模拟出SEU的小翻转概率；且在子集抽样方法的中间失效事件的阈值选择上采用改进的自适应方法，减少中间失效事件的条件概率计算误差，以利于能够高效地得出半导体器件的SEU翻转概率。本发明适用于半导体器件SEU数值模拟以及半导体器件小概率事件的数值模拟。