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晶圆可接受性测试机台内部环境的监测方法和监测装置

摘要

本发明公开了一种晶圆可接受性测试机台内部环境的监测方法,包括:提供一监测晶圆并检测该监测晶圆的缺陷颗粒数量;将所述监测晶圆置入所述晶圆可接受性测试机台,对该监测晶圆模拟N次晶圆可接受性测试,其中N等于待进行所述晶圆可接受性测试的所有晶圆的数量且N为大于等于2的正整数;检测所述监测晶圆的缺陷颗粒数量;根据对监测晶圆模拟N次晶圆可接受性测试前后得到的监测晶圆的缺陷颗粒数量的差值判断晶圆可接受性测试机台的内部环境是否正常。本发明能够有效模拟机台正常测试时的内部环境情况,从而更有效、更严格地控制机台内部环境。

著录项

  • 公开/公告号CN104716069B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-10-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;

    申请/专利号CN201510128230.0

  • 发明设计人 沈茜;莫保章;

    申请日2015-03-23

  • 分类号H01L21/66(20060101);H01L21/67(20060101);

  • 代理机构31275 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人吴世华;陈慧弘

  • 地址 201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号

  • 入库时间 2022-08-23 10:01:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-10-17

    授权

    授权

  • 2015-07-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:20150323

    实质审查的生效

  • 2015-07-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:20150323

    实质审查的生效

  • 2015-06-17

    公开

    公开

  • 2015-06-17

    公开

    公开

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