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倒装芯片用全金属间化合物互连焊点的制备方法及结构

摘要

一种倒装芯片用全金属间化合物互连焊点的制备方法及结构,在芯片上制备第一金属焊盘、第一可焊层和钎料凸点,在基板上制备第二金属焊盘和第二可焊层,在第二可焊层的表面涂覆焊剂,将钎料凸点和第二金属焊盘一一对准、接触放置,形成一个组合体,对该组合体加热至所需温度下进行钎焊回流,在第一金属焊盘和第二金属焊盘之间形成温度梯度ΔT/Δd,直至钎料凸点熔化后发生钎焊反应全部转变为金属间化合物。本发明在钎焊回流时形成温度梯度,加速了金属间化合物的生长速率,提高了全金属间化合物互连焊点的制备效率;与半导体和封装技术工艺兼容性好,金属间化合物具有择优取向和热稳定性,提高了焊点的力学性能和服役可靠性,实现低温互连高温服役。

著录项

  • 公开/公告号CN104716058B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-10-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN201510068044.2

  • 申请日2015-02-09

  • 分类号H01L21/60(20060101);H01L33/62(20100101);H01L23/488(20060101);

  • 代理机构21200 大连理工大学专利中心;

  • 代理人梅洪玉

  • 地址 116024 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号

  • 入库时间 2022-08-23 10:01:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-10-13

    授权

    授权

  • 2015-07-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/60 申请日:20150209

    实质审查的生效

  • 2015-07-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/60 申请日:20150209

    实质审查的生效

  • 2015-06-17

    公开

    公开

  • 2015-06-17

    公开

    公开

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