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一种基于静电控制扭摆的导体表面电势测量仪

摘要

本发明提供了一种基于静电控制扭摆的导体表面电势测量仪,包括悬丝、探针支架,扫描探针,多自由度微位移平移台,角度传感器,控制系统和反馈执行机;扫描探针设置在探针支架的任意一个端面上;悬丝悬挂探针支架构成扭摆;工作时,待测样品设置在多自由度微位移平移台上,待测样品的待测表面正对且平行于扫描探针的端面;扫描探针的端面与待测表面不接触;当扫描探针与待测样品之间存在相互作用时,角度传感器将检测的扭摆的扭转信息传给控制系统;进行PID运算后获得的反馈控制电压传给反馈执行机,产生一个与外力矩等大的反馈控制力矩并施加给探针支架,使得探针支架保持相对静止;驱动微位移平移台使待测样品相对于扫描探针移动,从而实现对样品表面不同区域的扫描测量。

著录项

  • 公开/公告号CN104865410B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201510220791.3

  • 发明设计人 周泽兵;白彦峥;尹航;胡明;

    申请日2015-05-04

  • 分类号

  • 代理机构华中科技大学专利中心;

  • 代理人廖盈春

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 09:55:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-05-10

    授权

    授权

  • 2015-09-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01Q 80/00 申请日:20150504

    实质审查的生效

  • 2015-08-26

    公开

    公开

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