一种基于单片机技术的半导体激光器特性参数测量仪

摘要

针对目前国内半导体激光器测量仪器系统庞大、操作复杂、测量周期长、价格昂贵、不易于推广的情况,研制了较低成本的半导体激光器特性参数测量装置.它能够方便、准确地测量激光器的重要参数,并能根据测得的电压-电流和功率-电流特性曲线对器件的质量和性能作出评价.