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一种高电阻温度系数氧化钒薄膜的制备方法

摘要

本发明公开了一种高电阻温度系数氧化钒薄膜的制备方法,包括:单晶硅衬底表面清洗,装入磁控溅射装置生长室;在单晶硅表面溅射氮化硅薄膜;在氮化硅薄膜上沉积一层氧化钒薄膜;在氧化钒薄膜上沉积一层硫化锌薄膜;在硫化锌薄膜上沉积一层氧化钒薄膜;对所沉积的薄膜样品进行退火处理。本发明无需高温退火处理,既保证了氧化钒薄膜制备与MEMS工艺和集成电路工艺的兼容性,又可以得到电阻率适中的氧化钒薄膜材料,可满足高性能氧化钒基非制冷型红外探测器的要求。

著录项

  • 公开/公告号CN104611670B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-04-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN201510030113.0

  • 申请日2015-01-21

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人任岩

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2022-08-23 09:54:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-08

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):C23C 14/08 授权公告日:20170412 终止日期:20180121 申请日:20150121

    专利权的终止

  • 2017-04-12

    授权

    授权

  • 2017-04-12

    授权

    授权

  • 2015-06-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23C14/08 申请日:20150121

    实质审查的生效

  • 2015-06-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23C 14/08 申请日:20150121

    实质审查的生效

  • 2015-05-13

    公开

    公开

  • 2015-05-13

    公开

    公开

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