首页> 中国专利> 一种晶体微观结构的同步辐射可视化表征方法

一种晶体微观结构的同步辐射可视化表征方法

摘要

本发明涉及一种晶体微观结构的高普适高效同步辐射可视化表征方法,包括以下步骤:步骤一:获取同步辐射微区劳厄衍射实验扫描样品上每一点得到的原始图谱中的平均强度;步骤二:使用归一化的手段将步骤一得到的平均强度中入射X射线强度影响消除,得到归一化后衍射图谱平均强度;步骤三:根据步骤二归一化后衍射图谱平均强度绘制对于整个扫描区域中衬度与微观结构有关的图像1;步骤四:对原始图谱中的异常数值进行拟合;步骤五:对步骤四拟合后图谱进行阈值过滤并计算衍射图谱的平均强度;步骤六:根据步骤五阈值过滤后衍射图谱平均强度绘制对于整个扫描区域中衬度与微观结构有关的图像2,从而实现晶体微观结构的高普适高效同步辐射可视化表征。

著录项

  • 公开/公告号CN105675638B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-04-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安交通大学;

    申请/专利号CN201610177788.2

  • 发明设计人 陈凯;朱文欣;沈昊;周光妮;李尧;

    申请日2016-03-24

  • 分类号G01N23/207(20060101);G06T11/00(20060101);

  • 代理机构61215 西安智大知识产权代理事务所;

  • 代理人何会侠

  • 地址 710049 陕西省西安市咸宁路28号

  • 入库时间 2022-08-23 09:54:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-04-05

    授权

    授权

  • 2016-07-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/207 申请日:20160324

    实质审查的生效

  • 2016-06-15

    公开

    公开

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