首页> 中国专利> 一种实现稳定测温的测温装置及其所在的半导体设备

一种实现稳定测温的测温装置及其所在的半导体设备

摘要

本发明公开了一种实现稳定测温的测温装置及其所在的半导体设备,通过在测温装置的绝缘管内部设置热电极固定装置,将所述两根热电极与所述绝缘管保持相对固定,从而使得测量端与待测温物体的表面接触良好,避免了日常设备维护时,热电极由于维护过程中的拖拽与绝缘管发生滑移,从而影响测量结果的现象,保证了测量结果的稳定性和准确性,同时在绝缘管下方设置一弹簧,通过弹簧的弹力使得测量端与被测物体接触良好的同时,避免了测温装置与被测温物体的刚性接触导致的被测温物体破裂。

著录项

  • 公开/公告号CN104296887B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-04-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中微半导体设备(上海)有限公司;

    申请/专利号CN201310299429.0

  • 发明设计人 左涛涛;吴狄;倪图强;

    申请日2013-07-17

  • 分类号

  • 代理机构上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人王洁

  • 地址 201201 上海市浦东新区金桥出口加工区(南区)泰华路188号

  • 入库时间 2022-08-23 09:54:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-05

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01K 7/02 变更前: 变更后: 申请日:20130717

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2017-04-05

    授权

    授权

  • 2017-04-05

    授权

    授权

  • 2015-02-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01K7/02 申请日:20130717

    实质审查的生效

  • 2015-02-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01K 7/02 申请日:20130717

    实质审查的生效

  • 2015-01-21

    公开

    公开

  • 2015-01-21

    公开

    公开

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