首页> 中国专利> 一种基于特征图样反射的反射镜位移测量方法

一种基于特征图样反射的反射镜位移测量方法

摘要

本发明公开了一种基于特征图样反射的反射镜位移测量方法,在显示屏上显示特征图样,并投影在反射镜上,经反射后由CCD摄像机进行拍摄。CCD摄像机拍摄记录下反射回来的特征图样,即CCD拍摄记录下显示屏由反射镜形成的虚像。当反射镜发生移动时,摄像机所拍摄的虚像也会发生移动。通过对摄像机的内参数和外参数进行标定,可以得到反射镜移动所引起的虚像的移动距离。再根据光线反射定律可知,反射镜的移动距离是其虚像移动距离的一半,从而得到反射镜的位移。

著录项

  • 公开/公告号CN104197846B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院光电技术研究所;

    申请/专利号CN201410479062.5

  • 发明设计人 赵文川;李璐璐;范斌;

    申请日2014-09-18

  • 分类号

  • 代理机构北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人杨学明

  • 地址 610209 四川省成都市双流350信箱

  • 入库时间 2022-08-23 09:53:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-15

    授权

    授权

  • 2015-01-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/02 申请日:20140918

    实质审查的生效

  • 2014-12-10

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号