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具有双功函数金属栅的互补场效应晶体管及其制造方法

摘要

本发明涉及一种具有双功函数金属栅的互补场效应晶体管的制造方法,互补场效应晶体管包括第一晶体管,第二晶体管,用于隔离第一晶体管和第二晶体管的隔离结构,其特征在于,包括:在衬底上沉积栅介质层;在栅介质层上沉积第一导电材料层;以及在第一导电材料层上对应于第一晶体管的位置处形成第二导电材料层,并在对应于第二晶体管的位置处形成第三导电材料层,其中,第二导电材料层具有低于第三导电材料层的第三功函数的第二功函数。此外,本发明还涉及一种具有双功函数金属栅的互补场效应晶体管。通过本发明的技术方案,可以通过简单的工艺来实现双功函数金属栅,从而实现了CMOS的大的饱和电流并降低了阈值电压。

著录项

  • 公开/公告号CN103579113B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;

    申请/专利号CN201210276327.2

  • 申请日2012-08-03

  • 分类号H01L21/8238(20060101);H01L21/283(20060101);H01L27/092(20060101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人李可;姜义民

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号

  • 入库时间 2022-08-23 09:52:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-02-08

    授权

    授权

  • 2014-03-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/8238 申请日:20120803

    实质审查的生效

  • 2014-02-12

    公开

    公开

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