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用于分析和诊断大规模过程自动化控制系统的方法

摘要

提供一种用于分析和诊断具有多个控制回路的大规模过程自动化控制系统的方法。针对每个控制回路的控制、过程和信号分段自动生成用于预定义关键性能指标(KPI)的评定。可以在计算机的图形用户界面(GUI)中显示预定义KPI的自动生成的评定。用户可以改变自动生成的预定义KPI的评定。也可以在GUI中显示不同数据视图。数据视图包括用于测量的过程变量、控制器输出、控制器设置点和误差的时间序列趋势,以及在二维和三维图中的控制器参数聚类视图。

著录项

  • 公开/公告号CN103403638B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-12-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ABB公司;

    申请/专利号CN201280011403.5

  • 申请日2012-01-24

  • 分类号

  • 代理机构北京市金杜律师事务所;

  • 代理人王茂华

  • 地址 美国北卡罗来纳州

  • 入库时间 2022-08-23 09:49:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-12-21

    授权

    授权

  • 2014-01-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G05B 23/02 申请日:20120124

    实质审查的生效

  • 2013-11-20

    公开

    公开

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