一种集成电路芯片测试机

摘要

本实用新型公开一种集成电路芯片测试机。本实用新型涉及芯片测试设备技术领域。该集成电路芯片测试机包括：测试主机、加热头、连接组件、护罩以及软管，在测试主机两侧分别设置一个加热头，测试主机顶部的气流输出主管两端分别通过阀门连接有气流输出支管，气流输出支管通过软管与加热头连接，在加热头背面设置软管限位板和软管托板，可通过软管限位板将软管限制在加热头背面与软管限位板之间，并通过软管托板对软管进行承托，避免在实现热冲击的传递的过程中，软管被气流带动产生移动和扭曲。软管可实现位置的相对稳定，避免软管局部区域遮挡测试主机的控制面板或者加热头上的显示屏，影响测试人员正常操作集成电路芯片测试机的问题。