公开/公告号CN212871277U
专利类型实用新型
公开/公告日2021-04-02
原文格式PDF
申请/专利权人 镇江矽佳测试技术有限公司;
申请/专利号CN202021749897.5
发明设计人 常浩;
申请日2020-08-20
分类号G01D21/00(20060101);G01L5/00(20060101);
代理机构
代理人
地址 212001 江苏省镇江市高新区南徐大道298号A座高新大厦
入库时间 2022-08-22 20:30:56
机译: 一种使用相同的对准半导体封装测试处理器位置的托盘一种使用相同的对准半导体封装位置的方法和测试方法
机译: 用于半导体封装测试的插座,一种测试探针以及一种能够增强测试探针终端的硬度的半导体封装的方法
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