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一种半导体封装检查设备

摘要

本实用新型公开了一种半导体封装检查设备,包括检查板,所述检查板上设有检查结构,所述检查板侧壁面设有运送结构;所述检查结构包括:两个气缸、两个固定板、两个第一电机、两个支撑板、两个拉力传感器以及两个真空吸盘;两个所述气缸安装于检查板上壁面,本实用新型涉及半导体生产设备技术领域,结构简单,使用方便,设有检查结构,可自动检查包装内是否漏装半导体,无需操作人员人工进行检查,减少了操作人员的工作量,减慢了操作人员的疲劳感的产生,设有运送结构,使用一个动力带动两个输送机相对工作,将漏装的包装运送至原位,无需人工搬运,提高了工作效率。

著录项

  • 公开/公告号CN212871277U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-04-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 镇江矽佳测试技术有限公司;

    申请/专利号CN202021749897.5

  • 发明设计人 常浩;

    申请日2020-08-20

  • 分类号G01D21/00(20060101);G01L5/00(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 212001 江苏省镇江市高新区南徐大道298号A座高新大厦

  • 入库时间 2022-08-22 20:30:56

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