首页> 中国专利> 一种双射频脉冲等离子体的刻蚀方法及其刻蚀装置

一种双射频脉冲等离子体的刻蚀方法及其刻蚀装置

摘要

本发明提供一种双射频脉冲等离子体的刻蚀方法及其刻蚀装置,所述等离子体处理腔室具有上电极和下电极,通过源射频功率和偏置射频功率共同进行制程,所述腔室中放置有基片,所述下电极分别连接有源射频功率源和偏置射频功率源,所述偏置射频功率源以脉冲的方式输出偏置功率,所述偏置射频功率源交替输出第一低频频率和第二低频频率的两种脉冲信号进行制程,所述第一低频频率和第二低频频率的脉冲信号的频率相同且相位相反,本发明结合两种低频频率刻蚀方法,通过调节脉冲发生器的脉冲周期及占空比实现连续调节粒子密度和离子能量,使关键尺寸和均匀性都能得到连续的精确控制,对28nm刻蚀工艺或以下刻蚀工艺中关键尺寸精确控制提供有力帮助。

著录项

  • 公开/公告号CN103915308B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-06-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中微半导体设备(上海)有限公司;

    申请/专利号CN201210594588.9

  • 发明设计人 杜若昕;梁洁;王兆祥;苏兴才;

    申请日2012-12-31

  • 分类号H01J37/32(20060101);B81C1/00(20060101);

  • 代理机构72003 隆天知识产权代理有限公司;

  • 代理人张龙哺;吕俊清

  • 地址 201201 上海市浦东新区金桥出口加工区(南区)泰华路188号

  • 入库时间 2022-08-23 09:42:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-09

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01J 37/32 变更前: 变更后: 申请日:20121231

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2016-06-29

    授权

    授权

  • 2016-06-29

    授权

    授权

  • 2014-08-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J37/32 申请日:20121231

    实质审查的生效

  • 2014-08-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J 37/32 申请日:20121231

    实质审查的生效

  • 2014-07-09

    公开

    公开

  • 2014-07-09

    公开

    公开

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