一种集成电路芯片电气特性自动测试装置

摘要

本实用新型公开了一种集成电路芯片电气特性自动测试装置，测试通道选择电路Relay与待测试设备DUT连接用于测试通道选择，控制器MCU与测试通道选择电路Relay连接用于与PC机通信和控制测试通道选择，MP300TC3测试仪与测试通道选择电路Relay连接用于测试信号生成和测试结果统计，PC机分别与控制器MCU和MP300TC3测试仪连接用于负责测试通道配置、测试向量生成以及测试结果统计。本实用新型实现了集成电路芯片电气特性测试的自动化，代替了传统的人工手动测试，在研发阶段测试芯片的特性，节省人力成本、自动化程度高。