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公开/公告号CN208795678U
专利类型实用新型
公开/公告日2019-04-26
原文格式PDF
申请/专利权人 内蒙古工业大学;
申请/专利号CN201821594953.5
发明设计人 刘飞;白朴存;崔晓明;侯小虎;赵学平;赵锦龙;
申请日2018-09-29
分类号
代理机构北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人汤东凤
地址 010051 内蒙古自治区呼和浩特市新城区爱民街49#内蒙古工业大学
入库时间 2022-08-22 08:58:37
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-04-26
授权
机译: 电子显微镜,特别是用于电子背散射衍射过程的扫描电子显微镜,包括用于对样品的晶体结构进行非破坏性确定的非破坏性确定单元。
机译: 电子背散射衍射样品表征的方法和装置
机译:使用原位电荷补偿的非导电样品的电子背散射衍射分析
机译:一种用于X射线粉末衍射研究的样品架和块样品
机译:使用飞行时间中子衍射和电子背散射衍射进行定量纹理分析。
机译:一种快速和植入的样品生产方法用于大型电子透明金属样品用于基于MEMS的原位S / TEM实验
机译:应用电子背散射衍射(EBSD)用于研究CARM-PVD制造的多层CRN / MON涂层的结构和相位组成
机译:用于电子背散射衍射的场发射枪扫描电子显微镜用于先进材料的织构,成形性和疲劳研究;最终的评论。 2005年5月1日至2007年2月28日