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X射线荧光光谱仪的分光光路自动调试与校正系统

摘要

本实用新型涉及一种用于顺序式波长色散X射线荧光光谱仪的分光光路自动调试与校正系统。系统包括操作界面模块、晶体架控制模块、测角仪θ轴与2θ轴高精度步进电机控制模块、探测器数据采集模块、数据图像处理模块;系统选择被测元素谱线作为标定测角仪的基准谱线,通过布拉格方程计算出晶体掠射角与探测器出射角,将测角仪的θ轴与2θ轴旋转到指定位置,通过控制安装在θ轴与2θ轴的步进电机、晶体架、探测器实现对晶体与探测器位置的自动调整,获得晶体校正因子,从而对晶体掠射角与探测器出射角进行校正。本实用新型实现对分光光路的远程自动调试,保护调试人员免受X射线辐射,减少对调试人员调试经验的依赖,提高调试效率与精度。

著录项

  • 公开/公告号CN207675676U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2018-07-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 钢研纳克检测技术股份有限公司;

    申请/专利号CN201721864674.1

  • 申请日2017-12-27

  • 分类号G01N23/223(20060101);

  • 代理机构11248 北京中安信知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李彬;张小娟

  • 地址 100081 北京市海淀区高粱桥斜街13号

  • 入库时间 2022-08-22 05:51:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-31

    授权

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