ICF系统全光路像差测量与校正方法

摘要

介绍一种新的像差探测方法,该方法能够探测整个惯性约束聚变(ICF)光学系统的像差.驱动变形镜调制各种不同的像差加入ICF光学系统,从而导致远场的焦斑变化,此时将CCD放置到远场探测焦斑强度,同时采用哈特曼-夏克波前传感器在近场探测系统像差变化量.根据不同的系统像差变化量以及与其对应的远场强度,利用改进的相位反演算法可以计算出整个光学系统的像差.数值模拟表明,该方法可以测量并校正整个ICF系统的光学像差.