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基于双哈特曼传感器的全光路像差校正系统及校正方法

摘要

一种基于双哈特曼传感器的全光路像差校正系统及校正方法,该校正系统包括高能激光器、波前校正器、分光镜、光束质量评价系统、内光路哈特曼传感器、第一哈特曼传感器、第二哈特曼传感器、数据融合组件和高压放大器;该校正方法基于上述校正系统,它利用两台哈特曼传感器同时测量分光镜的反射和透射像差,并采用不依赖于响应矩阵的数据融合方法将分光镜像差传递给内光路哈特曼传感器,从而控制波前校正器实现全光路像差校正。本发明具有原理简单、实现简便等优点,能够解决现有技术受器件构造工艺制约的问题,可提高多传感器之间的数据融合效率,可有效提升高能激光系统出口光束质量。

著录项

  • 公开/公告号CN102980743B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-02-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国人民解放军国防科学技术大学;

    申请/专利号CN201210415086.5

  • 申请日2012-10-26

  • 分类号G01M11/02(20060101);G02B26/06(20060101);

  • 代理机构43008 湖南兆弘专利事务所;

  • 代理人赵洪;周长清

  • 地址 410073 湖南省长沙市砚瓦池正街47号国防科学技术大学光电科学与工程学院定向能技术研究所

  • 入库时间 2022-08-23 09:23:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-02-11

    授权

    授权

  • 2013-04-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20121026

    实质审查的生效

  • 2013-03-20

    公开

    公开

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